Instituto de Física
"Ing. Luis Rivera Terrazas"

Laboratorio de Análisis de Superficies

Responsable: Dr. Rutilo N. Silva González


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Obtención de micrografías por medio de un microscopio de barrido de electrones (SEM). Se cuenta con un microscopio de emisión de campo JSM-7800F (Jeol), que permite ver detalles estructurales de hasta decenas de nanómetros. Acoplado al microscopio se tiene un sistema X-Max (Oxford Instruments) que permite realizar análisis elemental por EDS.



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