Laboratorio Central
El Perfilometro Dektak 150 de superficie es un instrumento avanzado para medir el espesor de
las películas delgadas. Este permite medir espesores de películas por debajo de 100 Å y con dimensiones
de hasta 5 pulgadas de anchura y 4 de espesor.
Además, se puede usar para determinar la topografía y rugosidad de las muestras en rango nanométrico.
El sistema ofrece reproducibilidad de un paso de altura de 0.6 nm (6 Å ). Para las geometrías finas, la
resolución vertical del rastreo de este equipo es de 1 Å.
Una punta de diamante ( stylus ) de forma L, permite medir con precisión una superficie de dos dimensiones para
diversas aplicaciones. En su configuración estándar, la fuerza de la punta ( stylus ) se puede ajustar desde
1 mg hasta 15 mg, con la cual permite analizar superficies duras y blandas.
Su opción N -Lite permite disminuir la fuerza de la punta sobre la superficie de la muestra hasta 0.03 mg . El
mínimo y máximo del espesor que puede medir son de 1.0 Å y 50.0 µm , respectivamente.
